宏明科技有限公司 Hong-Ming Technology Co., Ltd  展08

本次展出

  AOI設備

   光學系統

   像系統

     影像分析

○  運動控制

○   其他

展出品牌

 

HMT

展品資料

 

[可變波長光源系統]
各波長穿透率大於90%,快速切換波長位置,可調整波長寬度,可搭配光譜儀使用
 光譜範圍:400-1700nm客製波段、光譜解析度︰2nm、光譜半高寬︰10nm - 全波長、檢測準確性:1nm、掃描速度︰50nm/sec 功率100w~1000w
 
[近紅外光相機(面形及線形)]
Resolution: 320x256, 640x512, 1384x1036, 2048*
 Spectral response: 0.4-1.1um, 0.9-1.7um
 Frame rate: 15, 30, 60, 76000(linescan rate)
 ADC : 12, 14, 16bit
 QE response: >60%, >70%
 Operating mode : Global, Rolling shutter
 
[高光譜影像系統]
以高解析度相機搭配可變波長光源系統及HMTOptics-HS軟體,擷取並整合多波長影像,具有操作簡便、波長連續、應用廣泛之特點。可做為反射率量測、膜厚量測、色度分析、螢光影像檢測、藥物檢測等應用

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基本資料

地址

 

新北市樹林區中山路一段390號

業務聯絡人

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黃心怜

 

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公司介紹

公司性質

 

AOI相關元件/模組/平台供應商、AOI設備供應商

公司簡介

 

宏明科技以真實呈現光的特性為願景,提供光為媒介的各式產品之最佳管理途徑,自行開發生產各式光學先端技術檢測儀器,並代理銷售國內外理化實驗相關儀器、耗材及藥品。
目前光學檢測設備已成為材料製程、品管流程的必備要件。宏明專精於光學特性檢測技術(穿透率、反射率、光學膜厚、色度)及螢光色譜檢測技術,並整合相關自動化技術,可應用在一般生物及化學實驗、光學鍍膜、表面處理、發光材料、PLEDOLED、生物晶片、微機電系統之研發及生產工作。過去在太陽能電池相關檢測設備之開發有諸多成效,並在觸控面板之微孔穿透率量測亦有相當顯著成果,近期投入半導體相關光學檢測之開發並已漸有成果,本公司旨在提供業界齊全的產品,因應廣泛客戶需求。

AOI主力產品

 

  1. 可變波長光源系統
  2. 近紅外光影像擷取系統
  3. 高光譜影像系統
  4. DIC微分干涉影像系統
  5. 聲波控制聚焦鏡組
  6. ITO-001 ITO薄膜厚度影像量測儀
  7. ATR-1 線上穿透/膜厚量測系統
  8. 客製化光譜分析系統